41. Rapid reliability assessment of VLSICs

المؤلف:

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Integrated circuits - Very large scale integration - Reliability

رده :
TK
7874
.
R37
1990

42. Reasoning in Boolean networks

المؤلف:

المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)

موضوع: Integrated circuits, Very large scale integration, Testing, Data processing,Integrated circuits, Verification, Data processing,Logic design, Data processing

رده :
TK7874
.
K866
1997

43. Reasoning in Boolean networks: logic synthesis and verification using testing techniques

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Integrated circuits-- Verification-- Data processing,، Logic design-- Data processing

رده :
TK
7874
.
K866
1997

44. Reasoning in boolean networks : logic synthesis and verification using testing techniques

المؤلف:

المکتبة: (طهران)

موضوع: Testing -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Data processing ، Integrated circuits -- Verification,Data processing ، Logic design

رده :
TK
7874
.
K866
1997

45. Self-testing VLSI design

المؤلف:

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Integrated circuits - Very large scale integration - Design

رده :
TK
7874
.
I16
1993

46. System-on-chip test architecture

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Systems on a chip--Testing,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Integrated circuits--Very large scale integration--Design

رده :
TK
,
7895
,.
E42
,
S978
,
2008eb

47. System-on-chip test architectures

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing

رده :
TK7895
.
E42
S978
2008

48. System-on-chip test architectures :

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing

رده :
TK7895
.
E42
S978
2008

49. System-on-chip test architectures : nanometer design for testability

المؤلف:

المکتبة: (طهران)

موضوع: Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Design ، Integrated circuits -- Very large scale integration

رده :
TK
7895
.
E42S97

50. System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits-- Very large scale integration,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design

رده :
TK
7895
.
E42
.
S978
2008

51. Test and diagnosis for small-delay defects

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)

رده :
TK
,
7874
,.
T4323
,
2011

52. Test and diagnosis for small-delay defects

المؤلف:

المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)

موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)

رده :
TK7874
.
T4323
2011

53. Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing. ;

54. Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits /

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع: Crosstalk.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Circuits and Systems.,Control Structures and Microprogramming.,Logic Design.,Performance and Reliability.,Algorithms & data structures.,Circuits & components.,Computer architecture & logic design.,Crosstalk.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Systems analysis & design.,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Mechanical

رده :
TK7874
.
75

55. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع: Very large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits,Ultra large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits

رده :
TK
7874
.
N345
1987

56. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI

موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Congresses,، Integrated circuits-- Ultra large scale integration-- Testing-- Congresses

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

57. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)

موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Ultra large scale integration- Testing- Congresses

رده :
TK
7874
.
N345
1987

58. Testing and diagnosis of VLSI and USLI

المؤلف:

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration - Testing-Congresses

رده :
TK
7874
.
N345
1987

59. Testing and reliable design of CMOS circuits

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)

موضوع: ، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction

60. Tutorial-VLSI testing and validation techniques

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits

رده :
TK
7874
.
T8855
1985